半导体检测
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铟锭杂质检测,YS/T 264-1994高纯铟纯度鉴定,入库第三方检测
更新时间:2024-11-08 免费会员
广东省工业分析检测中心
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铟锭杂质检测,高纯铟纯度鉴定,入库第三方检测

铟锭杂质检测找中国有色金属工业华南产品质量监督检验中心,专业的铟锭第三方检测机构,出具检测报告可用于仓库入库,交易,科研,课题申报,报关等用途。中心拥有100多万的ICP-MS,可进行高纯金属杂质检测,可检测部分7N级别高纯金属。

铟是一种银白色略带淡蓝色的金属,可用于制造低熔合金、轴承合金、半导体、电光源的原料。高纯铟是指纯度达到99.999%的铟元素单质。执行标准为YS/T 264-1994。


铟锭杂质标准要求如下:

In-05 In含量不小于99.999.杂质含量(Fe<0.5、Cu<0.4、Pb<1、Zn<0.5、Sn<1、Cd<0.5、Tl<1、Mg<0.5、Al<0.5、As<0.5、Si<1、S<1、Ag<0.5、Ni<0.5、总和<10)*10-4

In-06 In含量不小于99.9999.杂质含量(Fe<0.1、Cu<0.1、Pb<0.1、Zn<-、Sn<0.3、Cd<0.05、Tl<-、Mg<0.1、Al<-、As<-、Si<0.1、S<0.1、Ag<-、Ni<-、总和<1)*10-4


铋、铝、铅、铁、铜、镉、锡、铊铟化学分析方法 第10部分:铋、铝、铅、铁、铜、镉、锡、铊量的测定   电感耦合等离子体原子发射光谱法YS/T 276.10-2011
砷、铝、铜、镉、铁、铅、铊、锡、锌、铋铟化学分析方法 第11部分:砷、铝、铅、铁、铜、镉、锡、铊、锌、铋量的测定 电感耦合等离子体质谱法YS/T 276.11-2011


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